2024年10月26-28日，在苏州国际会议酒店隆重召开第十三届中国颗粒大会。此次盛会由中国颗粒学会主办，中国科学院过程工程研究所与中国颗粒学会微纳气泡专委会共同承办。大会为期三天，吸引来自高校、研究机构、企业等颗粒学领域的2000余名专家学者出席。

      展会现场

      此次中国颗粒大会，澳谱特科技带来了Zetatronix系列纳米粒度及Zeta电位分析仪，以及MorphoVIEW系列图像粒度粒形分析仪，这些产品凭借优良品质、简便操作等特点，吸引了众多观众的关注。

      在会议现场，澳谱特工作人员详细介绍了粒度粒形分析仪器的工作原理、应用领域以及优势特点，通过生动的演示和专业的讲解，让参会观众深刻感受到了澳谱特产品的性能和技术实力。

      27日，澳谱特科技专家在颗粒特性与测试分会场向与会者解读了“动态光散射测量方法及操作指南”国家标准，“动态光散射测量操作指南”为国际标准化组织（ISO）制定的技术报告（TR），该技术报告为使用动态光散射进行测量提供了实际指导，着重于获得高质量的测量结果所需的操作步骤。

      使用动态光散射法测量纳米颗粒粒度时，首先应检查散射光信号和光强自相关函数是否符合要求。为了检查结果是否受到高浓度效应的影响，需要对样品进行多次稀释和测量，如果测量的颗粒粒径有变化，表明存在多重散射，应使用最低浓度下的测量结果。若样品不能稀释，则使用背散射法测量高浓度样品粒度。建议使用者遵循动态光散射测量操作指南提供的操作步骤，以获得高质量的测量结果。

      澳谱特科技（上海）有限公司是专业的颗粒粒度粒形分析仪器制造商，目前拥有纳米粒度及Zeta电位分析仪和图像粒度粒形分析仪等两个系列多个型号产品，应用于纳米材料、生物医药、精细化工、油漆涂料、食品药品、航空航天、国防科技等领域，使用我们的仪器可以测量颗粒粒度、颗粒粒形、Zeta电位等信息，用于指导工业生产。我们持续不断进行研究和开发，持续不断对产品进行改进， 提供颗粒粒度粒形分析与应用综合解决方案，以满足广大客户日益增长的应用需求。

销售热线：+86 400 108 5268
联系邮箱：info@opptronix.com
官方网址：www.opptronix.com/