近日，澳谱特科技将3台Zetatronix 系列纳米粒度仪及Zeta电位分析仪，3台MorphoVIEW 系列图像粒度粒形分析仪发运俄罗斯。

纳米粒度及Zeta电位分析仪

      Zetatronix 939SZ 纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用多角度动态光散射技术测量颗粒粒度，提供与角度无关的高分辨率颗粒粒度分布，使用电泳光散射技术测量Zeta电位。智能化软件自动调整散射光强，自动优化测量参数，自动剔除异常散射光数据，自适应截取相关函数，以适应不同样品的测量需求。 Zetatronix 919SZ 纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用电泳光散射技术测量Zeta电位。智能化软件自动调整散射光强，自动优化测量参数，自动剔除异常散射光数据，自适应截取相关函数，以适应不同样品的测量需求。

      Zetatronix 919SZ 纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用电泳光散射技术测量Zeta电位。智能化软件自动调整散射光强，自动优化测量参数，自动剔除异常散射光数据，自适应截取相关函数，以适应不同样品的测量需求。

动态图像粒度粒形分析仪

      MorphoVIEW D380 动态图像粒度粒形分析仪，在运动过程中捕捉颗粒的图像，具有采样量大，无取向误差等特点。利用高分辨率工业相机，颗粒图像更清晰，测量结果更准确，使用数字图像分析方法，不仅给出颗粒的粒度参数，还给出颗粒的粒形参数，用于指导工业生产。

      澳谱特科技（上海）有限公司是专业的颗粒粒度粒形分析仪器制造商，目前拥有纳米粒度及Zeta电位分析仪和图像粒度粒形分析仪等两个系列多个型号产品，应用于纳米材料、生物医药、精细化工、油漆涂料、食品药品、航空航天、国防科技等领域，使用我们的仪器可以测量颗粒粒度、颗粒粒形、Zeta电位等信息，用于指导工业生产。我们持续不断进行研究和开发，持续不断对产品进行改进，提供颗粒粒度粒形分析与应用综合解决方案，以满足广大客户日益增长的应用需求。

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