产品手册-澳谱特科技（上海）有限公司

Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪 Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用电泳光散射技术测量Zeta电位。智能化软件自动调整散射光强，自动优化测量参数，自动剔除异常散射光数据，自适应截取相关函数，以适应不同样品的测量需求。
MorphoVIEW 系列图像粒度粒形分析仪 MorphoVIEW 系列图像粒度粒形分析仪用于测量颗粒粒度与粒形参数。颗粒粒度粒形是反应颗粒特性的基本指标，它决定了颗粒的物理、化学、力学等特性。为了控制产品的质量，生产过程中需要对颗粒粒度粒形参数进行检测。目前常用的颗粒测量方法，大多数只能测量颗粒粒径，而图像分析法所见即所得，既能测量颗粒粒度，又能测量颗粒粒形。图像分析法分为静态图像法和动态图像法，MorphoVIEW 系列仪器包括全自动的静态图像和动态图像粒度粒形分析仪，能够快速地提供粒度和粒形信息，对颗粒的宏观、介观、微观形态特征进行详细的表征。