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澳谱特科技参加第十四届全国颗粒测试学术会议
时间:2023-10-19      浏览:207

  2023年10月18-19日,第十四届全国颗粒测试学术会议在山东临沂蓝海国际饭店成功举办,本次会议邀请了众多国内外颗粒测试的专家、学者、优秀学生代表,围绕“技术应用”,共话粉体测试及表征技术新成果、新设备、新方案,共同探讨粉体测试行业的发展方向和未来趋势。本届学术会议为与会者提供了学习、交流、合作平台,有力的推动了粉体测试行业产、学、研、用一体化进程。


  澳谱特科技专家应邀作了“多角度动态光散射技术”的主题报告,从动态光散射法原理、多角度动态光散射技术、散射角的选择以及权重系数的求取等四方面分享了最新研究成果。


  2023年澳谱特科技相继推出Zetatronix 939SZ多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪,以及MorphoVIEW MIP380静态图像粒度粒形分析仪。Zetatronix 939SZ从多个不同的散射角进行光强自相关函数的测量,可以获得更多的粒度信息,并将其结合到一个数据分析中,提供高精度且与角度无关的粒度分布。MorphoVIEW MIP380静态图像粒度粒形分析仪基于显微镜结构,不仅能获取粒度参数,还能提供粒形参数,全维度展示颗粒特性。
  颗粒测试未来之路任重而道远,澳谱特科技将会持续不断加大研发投入,提升技术水平,为中国颗粒测试事业的发展贡献一份力量。

澳谱特科技(上海)有限公司

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