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澳谱特科技参加第三届粉体粒度表征及在线检测技术网络研讨会
时间:2023-06-15      浏览:635

  2023年6月15日,中国粉体网直播平台“第三届粉体粒度表征及在线检测技术网络研讨会”开播,本期粉体公开课邀请到多位行业内的专家教授,从粉体表征方法、不溶性微粒光阻法的检测与校准、动态光散射法纳米颗粒测量、气体吸附技术,以及图像法颗粒测量等多层面多视角为观众展现了不同测量技术及其进展。
  澳谱特科技(上海)有限公司刘伟教授的报告题目为“动态光散射纳米颗粒粒度测量方法及应用”,从自动过滤受灰尘干扰的散射光、相关函数的截取方式、背散射法测量高浓度样品粒度,及退偏振动态光散射法棒状颗粒测量等四方面分享了最新研究成果。
  澳谱特科技最新产品Zetatronix939SZ多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪,以高速数字相关器为核心器件,使用多角度动态光散射技术测量颗粒粒度,提供与角度无关的高分辨率颗粒粒度分布,使用电泳光散射技术测量Zeta电位。智能化软件自动调整散射光强,自动优化测量参数,自动剔除异常散射光数据,自适应截取相关函数,以适应不同样品的测量需求。

澳谱特科技(上海)有限公司

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