400-108-5268info@opptronix.com
首页>资源分享>技术报告>基于分位数异常值检测的动态光散射粒度测量中尘埃颗粒物的识别算法  
基于分位数异常值检测的动态光散射粒度测量中尘埃颗粒物的识别算法  
时间:2023-03-20      浏览:753

动态光散射(DLS)是一种测量纳米颗粒粒度的常用方法。同所有的光散射技术一样,当样品中存在尘埃或污染物时,由于尘埃颗粒通常比纳米颗粒大得多,因此,当激光束穿过散射体积时,它们会产生非常强烈的散射光,从而使测得的颗粒粒度发生较大偏差。然而,这也意味着,通过这一现象有可能减少灰尘颗粒对测量结果的影响。如果在测量过程中能够检测和去除与灰尘相关的异常散射光数据,则粒度测量结果将更加可靠。我们提出并论证了一种基于长时间计数率统计的剔除灰尘影响的方法。该方法通过识别可能与尘埃颗粒散射有关的异常数据,并剔除不需要的异常值后,用保留的光强数据计算自相关函数,然后反演颗粒粒度分布。通过对含有“灰尘”颗粒的标准聚苯乙烯悬浮液测量,结果表明,该方法可以有效识别和消除尘埃污染的数据,从而改善测量结果。

姓名*

联系电话*

邮箱*

单位名称*

国家/地区*

应用领域*

澳谱特科技(上海)有限公司

Opptronix Technology Shanghai Ltd.
上海市元江路3599号福克斯创新园3号楼316单元

隐私策略使用条款品牌与商标网站地图登陆

©2020 Opptronix Technology Shanghai Ltd.    备案号:沪ICP备2020032931号-1

联系电话:
400-108-5268

企业微信号